Badanie czasu życia pozytonów w materiałach scyntylacyjnych

Badana jest moż­li­wość zasto­so­wa­nia spek­tro­sko­pii czasu życia pozy­tonu do cha­rak­te­ry­za­cji defek­tów w scyn­ty­la­to­rach. Metoda ta jest z powo­dze­niem sto­so­wana do bada­nia metali i pół­prze­wod­ni­ków. Sondą w tym wypadku jest wyemi­to­wany w wyniku roz­padu pro­mie­nio­twór­czego pozy­ton, który ani­hi­luje w bada­nym mate­riale.

Metoda jest na tyle czuła, że moż­liwa jest iden­ty­fi­ka­cja bar­dzo małych kon­cen­tra­cji wakan­sów. Zaim­plan­to­wane w próbce pozy­tony szybko wytra­cają ener­gię, po czym ani­hi­lują w zależ­no­ści od gęsto­ści lokal­nego pola elek­trycz­nego z róż­nym cza­sem i praw­do­po­do­bień­stwem. W przy­padku ide­al­nej sieci kry­sta­licz­nej zja­wi­sko to jest zde­lo­ka­li­zo­wane, lecz w obec­no­ści wakan­sów zabu­rzony poten­cjał wyni­ka­jący z braku ato­mów sil­nie pułap­kuje pozy­tony wydłu­ża­jąc ich czas życia wzglę­dem dosko­na­łego krysz­tału. Dzięki dopa­so­wa­niu skła­do­wych eks­po­nen­cjal­nych do zmie­rzo­nego widma czasu życia moż­liwe jest wyzna­cze­nie tempa pułap­ko­wa­nia pozy­tonu, które jest pro­por­cjo­nalne do kon­cen­tra­cji defek­tów.

Osoba pro­wa­dząca:

Dr Kamil Bry­lew